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粉体粒度测量方法及优缺点说明

发布日期:2018-04-26   来源:矿道网   投稿者:yyq   浏览次数:3893

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     常用的粒度测试方法有筛分法、显微镜(动态/静态图象)法、沉降法、光阻法、电阻法、激光法、电子显微镜法、透气法、动态光散射法、X射线小角散射法等。

1) 筛分法:优点:简单、直观、设备造价低、常用于大于40 μm的样品。缺点:结果受人为因素和筛孔变形影响较大。

2) 显微镜(图像)法:优点:简单、直观、可进行形貌分析,适合分布窄(最大和最小粒径的比值小于10:1)的样品。缺点:代表性差,分析分布范围宽的样品比较麻烦,无法分析小于1 μm的样品。

3) 沉降法(包括重力沉降和离心沉降):优点:操作简便,仪器可以连续运行,价格低,准确性和重复性较好,测试范围较大。缺点:测试时间较长,操作比较繁琐。

4) 电阻法:优点:操作简便,可测颗粒数,等效概念明确,速度快,准确性好。缺点:不适合测量小于0.1 μm的颗粒样品,对粒度分布宽的样品更换小孔管比较麻烦。

5) 激光法:优点:操作简便,测试速度快,测试范围大,重复性和准确性好,可进行在线测量和干法测量。缺点:结果受分布模型影响较大,仪器造价较高,分辨力低。

6) 电子显微镜法:优点:适合测试超细颗粒甚至纳米颗粒,分辨力高,可进行形貌和结构分析。缺点:样品少,代表性差,测量易受人为因素影响,仪器价格昂贵。

7) 光阻法:优点:测试便捷快速,可测液体或气体中颗粒数,分辨力高。缺点:不适用粒径<1μm的样品,进样系统比较讲究,仅适合尘埃、污染物或已稀释好的药物进行测量,对一般粉体用的不多。

8) 透气法:优点:仪器价格低,不用对样品进行分散,可测磁性材料粉体。缺点:只能得到平均粒度值,不能测粒度分布;不能测小于5μm细粉。

9) X射线小角散射法:用于纳米级颗粒的粒度测量。

10) 光子相关谱法(动态光散射法):用于纳米级颗粒的粒度测量。

用3
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