什么是X光小角散射法

对单个球状颗粒，散射强度

I=I0m2Φ2(KR)

其中

m：颗粒中的电子数与同体积的周围介质中的电子数之差，可写为m=ρeV(R)，ρe为颗粒与其周围介质的电子密度差

Φ(KR)：球状颗粒的散射函数Φ(KR)=(sinKR-KRcosKR)，K=4πsinθ/λ，λ为入射X光波长，sinθ≌，ε是散射角

因此，散射强度可写成I=I0V(R)R3Φ2(KR)。

对多分散颗粒系统，设粒度分布函数为W(R)，则有

I(Kj)= i=1,2,….n

式中，系数aji=C,C是常数，从而由实验检测得到的不同散射角的散射强度，由该式即可计算出粒度分布。

X光小角散射仪已有进口商品仪器，其粒度测试范围为0.003μm~0.5μm。方法要注意两点：1，如同激光粒度仪一样，有复散射问题;2，由于X光散射与颗粒中电子数有关，因此，当颗粒表面氧化(如金属颗粒)或表面吸水(如氧化物等)时，电子数会变化，计算需要修正。