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银矿石分析与试验

发布日期:2017-08-01   来源:矿道网   投稿者:为   浏览次数:1895

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      1、基本分析样品   

(1)基本分析样品的采样

① 各项探矿工程中按矿体(分矿石类型、品级)、并对可能含矿的岩石、矿化带及夹石连续取样,使所取样品能控制矿体、矿化带的顶底板界线。样品长度一般为1 m~2 m,以不大于矿体可采厚度为宜。

②槽探、井探、坑探工程中通常采用刻槽法取样。一般样槽断面规格:银矿10cm× 3cm或10cm× 5cm,银矿化均匀者经论证还可以采用5cm×3cm;氧化矿石中品位变化较大者还可采用15 cm×5 cm。穿脉坑道一般在一壁腰线连续取样,矿化不均匀时可在两壁取样。沿脉坑道在掌子面或顶板取样,样品间距视矿化均匀程度而定,一般为5 m~10 m。通过试验也可以选择其他方法取样。

③岩矿心取样一般沿其长轴方向劈取一半作为样品,应尽可能使用金刚石刀具分取。对不同回次的岩矿心直径或采取率相差较大者要分别取样。

(2)基本样品分析项目

一般为Ag,其它有用组分达到工业要求时,也应列入基本分析。

2、光谱全分析

为确定组合分析和化学全分析项目,在矿体不同空间部位、不同矿石类型(或品级)及某些围岩、蚀变带取样。样品可从基本分析副样中抽取或单独采取。

3、矿石化学全分析

为全面了解矿石中各组分含量,在光谱全分析基础上,按主要矿体、分矿石类型(或品级)采取组合分析副样或单独采取有代表性的样品。每种矿石类型或品级一般做1个~2个。

4、组合分析项目

目的是系统了解矿石中伴生有用、有害组分的含量及其分布状况。从同一块段、一个或几个相邻探矿工程中提取若干个基本分析副样,按矿体分矿石类型(或品级)依样品长度的比例组合成一个样品。单个组合分析样品质量一般为100 g~200 g。根据矿石全分析资料并结合矿床地质特点,选择有实际意义的伴生组分(有益的或有害的)确定分析项目。

一般应考虑分析:Cu、Pb、Au、Ni.

5、物相分析

为了解矿床自然分带,应自地表至原生带上部刻槽取样进行物相分析。样品分析可与基本分析同时进行,也可在基本分析副样中抽取或专门采集,采样与分析必须及时进行,以免样品氧化影响质量。

6、单矿物或人工精矿分析

样品应采自矿体,一般在实验室内用各种机械分选方法获得,要注意可靠性与代表性(如矿物种类、同一矿物的不同世代、不同结晶粒度及色调等)和样品的纯洁性。采集地点和数量应按实际需要确定,用作估算矿产资源/储量时,可按工程或按块段采集组合样,分离人工精矿进行分析。一般送样质量:单矿物2g~20g,人工精矿30g~50g。

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